标准编制说明
（征求意见稿）
标准名称：光学功能薄膜表观质量的扫描显微镜测试方法
标准级别：中华人民共和国国家标准
起草单位：乐凯胶片股份有限公司、合肥乐凯科技产业有限公司
编制日期：2025年4月
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《光学功能薄膜表观质量的扫描显微镜测试方法》
征求意见稿编制说明
1工作简况
1.1任务来源
根据国标委发[2025]12号《国家标准化管理委员会关于下达2025年第三批推荐
性国家标准计划及相关标准外文版计划的通知》，全国光学功能薄膜材料标准化技术
委员会归口，乐凯胶片股份有限公司负责牵头制定《光学功能薄膜表观质量的扫描
显微镜测试方法》推荐性国家标准，计划编号T-606。
1.2制定背景
光学薄膜应用范围广泛，如：手机、电脑屏幕、液晶显示、LED照明、眼镜片、光学
器件以及光学仪器等。
缺陷对于薄膜的光学、电学、热力学等性质有很重要的影响，因此，缺陷研究在薄膜
制备、薄膜检测以及薄膜表征等领域中都有极其重要的意义。
在本行业（光学功能薄膜领域）的产品标准中，比如防眩光薄膜、自修复硬化膜、盖
板用透明硬化膜、光学级聚酯薄膜(PET)偏光片保护膜、热弯成型保护膜、偏光片用TAC
薄膜中表观质量检测都是目测法。目测法存在的问题是：通常无法清楚看到弊病点真实形
貌。比如弊病点目测为黑点，再通过显微镜分析，实则是孔洞的情况时有发生。因此，目
测法早已无法满足高速发展的薄膜生产需求。
还有一种：光学薄膜在线瑕疵检测系统，它能够代替目测法对薄膜生产进行实时在线
检测，有效的节约了人工成本。但存在的问题是：①在线瑕疵检测系统的检测幅宽跟生产
线仪器幅宽一致，且只能进行动态（即生产过程中）检查，比检查幅宽小、静态样片弊病
不能检查。②仪器辐射大，运行期间操作人员不能靠近。
现有的测试方法存在仪器测试精度低，弊病分类不准确的问题，不能满足本领域对光
学功能薄膜的测试需求。本文提出采用扫描式电子显微镜（SEM）、激光扫描共聚焦显微
镜进行样品表观真实形貌的表征。
SEM是聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。由电子枪发射出的电子束，在加速电压
的作用下，经过电磁透镜汇聚成一个细小的电子探针，在末级透镜上部扫描线圈的作用下，
电子探针在试样表面作光栅状扫描。高能量电子与所分析试样物质相互作用，会产生各种
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信息。所获得各种信息的二维强度和分布与试样的表面形貌、晶体取向及表面状态等因素
有关，所以通过接收和处理这些信息，便可以得到表征试样表面形貌的扫描电子图像。
在传统光学显微镜基础上，激光扫描共聚焦显微镜用激光作为光源，采用共轭聚焦原
理和装置，并利用计算机对所观察的对象进行数字图像处理观察、分析和输出。其特点是
可以对样品进行断层扫描和成像，进行无损伤观察和分析细胞的三维空间结构。
本标准是对光学功能薄膜表观质量的扫描显微镜检测方法，到目前为止，还没有国标
或行标涉及此类内容。
1.3主要工作过程
（1）在标准制定计划下达后，乐凯胶片股份有限公司牵头成立了标准起草工作小
组，工作小组首先按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结
构和起草规则》中要求,形成了标准草案。工作小组对标准草案进行了研究和评估，并
进行了验证。根据验证结果，工作小组内部讨论沟通后，完善了标准草案，并征求了相
关人员的意见后，形成了标准的征求意见稿。
1.4主要参加单位和工作组成员及其所做的工作
本标准主要参加起草单位为乐凯胶片股份有限公司、合肥乐凯科技产业有限公司，工
作组成员及分工见表2：
表2工作组成员及分工
姓名单位分工