基本信息
文件名称:高纯铟化学分析方法 第1部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 (2).pdf
文件大小:504.62 KB
总页数:13 页
更新时间:2025-05-17
总字数:约1.6万字
文档摘要

ICS77.120.99

CCSH17

YS

中华人民共和国有色金属行业标准

YS/TXXXX—XXXX

高纯铟化学分析方法

第1部分:痕量杂质元素含量的测定

辉光放电质谱法

Methodsforchemicalanalysisofhighpurityindium——Part1:

Determinationoftraceimpurityelementscontents——Glowdischargemass

spectrometry

(讨论稿)

XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

YS/TXXXX—XXXX

前言

YS/TXXX《高纯铟化学分析方法》分为5个部分:

——第1部分:镁、铝、硅、硫、铁、镍、铜、锌、砷、银、镉、锡、铊、铅的测定高质量分辨

率辉光放电质谱法;

——第2部分:高纯铟中痕量元素的测定电感耦合等离子体质谱法;

——第3部分:硅量的测定硅钼蓝分光光度法;

——第4部分:锡量的测定苯芴酮-溴代十六烷基三甲胺吸光光度法;

——第5部分:铊量的测定罗丹明B吸光光度法。

本文件是对YS/T981的第1部分进行的修订,

a)检测元素种类为73种;

-7

b)检测下限部分修订为1.0×10%;

c)文本格式按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》

修订。

本文件由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)、全国半导体设备和材料标准化技术委员

会材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)提出并归口。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件起草单位:国标(北京)检验认证有限公司。

本部分主要起草人:。

I

YS/TXXXX—XXXX

高纯铟化学分析方法第1部分:痕量杂质元素含量的测定

辉光放电质谱法

1.范围

本文件规定了采用高质量分辨率辉光放电质谱法测定99.999%以上高纯铟中杂质元素含量的方法,

测定元素见表1。

本文件适用于高纯铟中杂质的测定,各元素测定范围见表1。

表1测定范围

测定范围测定范围测定范围测定范围测定范围

元素元素元素元素元素

/μg/g/μg/g/μg/g/μg/g/