ICS31.260L53
SZDB/Z
深圳市标准化指导性技术文件
SZDB/Z73—2013
玩具中发光二极管（LED）辐射测试方法
Testmethodofradiationoflightemittingdiodeintoys
2013-01-23发布2013-02-01实施
深圳市市场监督管理局发布
I
SZDB/Z73—2013
前言
本指导性技术文件按照GB/T1.1-2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则起草。
请注意本指导性技术文件的某些内容可能涉及专利。本指导性技术文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本指导性技术文件由深圳出入境检验检疫局提出。
本指导性技术文件起草单位：深圳市检验检疫科学研究院，深圳出入境检验检疫局，深圳市汇捷万方电子有限公司，深圳迪诺威科技有限公司宝安分公司，通标标准服务（广州）有限公司，广州天祥技术服务有限公司，广东出入境检验检疫局技术中心，广州威凯检测技术有限公司。
本指导性技术文件主要起草人：周毅，蔡屹，陈俊彬，严瑞福，张栋，邵正华，谢晋雄，何柏清，黄晓东，颜刚华，甘志响。
本指导性技术文件为首次发布。
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SZDB/Z73—2013
玩具中发光二极管（LED）辐射测试方法
1范围
本指导性技术文件规定了用光功率计测量玩具中发光二极管辐射的试验方法。本指导性技术文件适用于玩具中发光二极管的辐射测试。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB19865-2005电玩具的安全
IEC60384-14电子设备用固定电容器第14部分:分规范抑制电源电磁干扰用固定电容器
IEC60825-1:1993+A1:1997+A2:2001(含勘误)激光产品的安全第1部分:设备分类、要求和用户指南
IEC62115:2003+A1:2004+A2:2010电玩具的安全
EN62115:2005+A2:2011+A11:2012电玩具的安全
3术语和定义
IEC62115和IEC60825-1中规定的相关术语和定义，以及下列术语和定义适用于本指导性技术文件。3.1
透明发光二极管transparentlightemittingdiode
封装材料透明的发光二极管，人眼可看到封装材料内的发光二极管芯片。3.2
不透明发光二极管untransparentlightemittingdiode
封装材料不透明的发光二极管，人眼不能看到封装材料内的发光二极管芯片。3.3
照射时间exposuretime
单脉冲、脉冲串或连续激光辐射照射到人体上的持续时间。
对于单脉冲，指脉冲前沿半功率点和后沿半功率点之间的持续时间。对于脉冲串，指前导脉冲的第一个功率峰值半高点和最后一个功率峰值半高点之间的持续时间。
3.4
放大倍数(Mλ)amplificationfactor(Mλ)
波长为λ的表观光源的成像尺寸与表观光源尺寸之比。
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SZDB/Z73—2013
4符号和说明
本指导性技术文件使用的符号和相应的说明见表1。
表1符号和说明
符号
说明
单位
P
连续发光二极管的热危害辐射功率
W
Q
连续发光二极管的光化学危害辐射能量
J
P
脉冲发光二极管第i个脉冲的热危害辐射功率
W
Q
脉冲发光二极管第i个脉冲的热危害辐射能量
J
Q
脉冲发光二极管第i个脉冲的光化学危害辐射能量
J
P
脉冲串的平均热危害辐射功率
W
Q
脉冲串的热危害辐射总能量
J
P
激光器的热危害辐射功率
W
Q
激光器的光化学危害辐射能量
J
5原理
根据表观光源的对向角a大小设定光源与7mm孔径光阑之间距离，用光功率计测量通过7mm孔径光阑的辐射。
6仪器和设备
a)光谱仪
波长测量精度1nm。
b)光功率计及探头
功率测量精度不超过±3％。
c)成像装置
成像装置由凸透镜或镜头、光束衰减器和光束分析仪组成。表观光源经凸透镜或镜头汇聚，在光束分析仪上成像；光束分析仪与电脑连接，测量表观光源成像的尺寸；根据成像装置的放大倍数计算表观光源的尺寸。
典型的成像装置如图1所示。锁定镜头的调节旋钮，则成像装置对波长λ的表观光源的放大倍数Mλ
固定，Mλ可通过计量得到。
1——光束分析仪，和电脑连接2——光束衰减器
3——镜头
图