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文件名称:片上网络关键链路故障攻克:诊断与容错技术的深度探索.docx
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总页数:24 页
更新时间:2025-05-21
总字数:约2.89万字
文档摘要

片上网络关键链路故障攻克:诊断与容错技术的深度探索

一、绪论

1.1研究背景与意义

随着半导体工艺技术持续向纳米阶段迈进,在单一芯片上集成海量晶体管已成为现实。国际半导体技术路线图(ITRS)曾做出预测,到特定年份,单个芯片上的晶体管数目将达到相当惊人的数量。在这种趋势下,如何高效利用数目众多的晶体管成为芯片体系结构面临的关键问题。若依旧遵循单核发展思路,芯片设计将遭遇互连延迟、存储带宽、功耗极限等阻碍性能提升的瓶颈。因此,多核技术应运而生,成为突破这些瓶颈的可行路径。多核能够凭借多个低频率核单元产生超越高频率单核的处理效能,进而获得更佳的性价比,围绕多核的一系列技术问题也随之成为芯片业研究