基本信息
文件名称:T_GVS 006—2022_半导体射频电源和微波电源的输出偏差稳定性测量方法.pdf
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总页数:17 页
更新时间:2025-05-21
总字数:约1.87万字
文档摘要

ICS19.08

CCSK80

TGVS

团体标准

T/GVS006—2022

半导体射频电源和微波电源的输出偏差稳

定性测量方法

MethodofmeasuringoutputdeviationstabilityforsemiconductorRF

powersupplyandmicrowavepowersupply

2022-05-27发布2022-05-27实施

广东省真空学会发布

T/GVS006—2022

目次

前言II

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4符号和缩略语2

5总则2

6测试条件2

测试环境2

测试前准备2

7测试要求3

最大输出功率测试3

频率偏差测试4

功率偏差测试4

不同驻波比下功率输出测试5

最大功率下输出不匹配测试6

附录A(资料性)射频电源和微波电源最大输出功率测试记录格式8

附录B(资料性)射频电源和微波电源频率偏差测试记录格式9

附录C(资料性)射频电源和微波电源功率偏差测试记录格式10

附录D(资料性)射频电源和微波电源不同驻波比下功率输出测试记