基本信息
文件名称:T_GVS 005—2022_半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范.pdf
文件大小:908.7 KB
总页数:17 页
更新时间:2025-05-21
总字数:约2.37万字
文档摘要

ICS23.160

CCSJ78

TGVS

团体标准

T/GVS005—2022

半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法

测试规范

Testingspecificationforcontrastmethodofabsolutepressure

capacitancediaphragmvacuumgaugeinthesemiconductorequipment

2022-03-28发布2022-03-28实施

广东省真空学会发布

T/GVS005—2022

目次

前言III

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4符号和缩略语2

5总则3

6测试条件要求3

测试装备3

标准真空计4

测试气体4

7精度测试4

安装4

通电检查5

预热5

零点、满度调节5

第一个静态平衡的测试压力点建立5

标准真空计的压力值和被测真空计的压力值测量5

拆卸5

测试信息记录6

8重复性精度测试6

测试要求6