1.X射线衍射：利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的晶体结构、晶格参数﹑晶体缺
陷(位错等)、不同结构相的含量及内应力的方法
2.X射线的强度是指垂直于X射线传播方向的单位面积上在单位时间内光量子数目的能量总
和
3.相干散射：入射线光子与原子内受核束缚较紧的电子（如内层电子）发生弹性碰撞作用，
仅其运动方向改变，而能量未改变的散射
4.透射电子：当样品厚度小于电子有效穿透深度时，穿过样品而出的那些入射电子
5.偏振光：只在垂直于光的传播方向的平面内的某一方向振动
6.俄歇电子：原子内层电子受到激发后，在能级跃迁过程中释放出来的能量ΔE使得核外另
一个电子电离并逸出样品表面，称为俄歇电子。
7.衍衬衬度：由于晶体样品中各处衍射束强度差异而形成的衬度。对于没有成分差异的单相
材料，衍衬衬度是由样品各处满足布拉格条件程度的差异造成的。
8.布拉格方程：2dsinθ=nλd-衍射晶面间距；θ-掠射角；λ-入射线波长；n-反射级数。
9.特征X射线：原子内层电子受到激发后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波
长的一种电磁波。
10.差示扫描量热法(DSC)：在程序控制温度条件下，测量输入给样品与参比物的功率差与温度
（或时间）关系的一种热分析方法。
11.K系特征辐射：原子K层出现空位，较外的L层电子向内的K层辐射跃迁，发射的辐射
12.二次电子：入射电子从固体中直接击出的原子的核外电子和激发态原子退回基态时产生的
电子发射，前者叫二次电子，后者叫特征二次电子。
13.原子序数衬度：又称为化学成分衬度，利用样品微区原子序数或者化学成分变化敏感的物
理信号作为调制信号得到的一种显示微区化学成分差别的像衬度。
14.连续扫描：连续扫描就是让试样和探测器以1:2的角速度作匀速圆周运动，在转动过程中
同时将探测器依次所接收到的各晶面衍射信号输入到系统。
15.热分析：在程序控制温度条件下，测量物质的物理性质随温度或时间变化的函数关系的技
术。
16.L系特征辐射：原子的L层出现空位，其外M,N层电子跃迁产生的谱线统称为L系特征辐
射。
17.光电效应：入射X射线的光量子与物质原子中电子相互碰撞时产生的物理效应。
18.晶带面：在晶体结构和空间点阵中平行于某--轴向的所有晶面均属于同一个晶带,这些晶面
叫做晶带面
19.晶带轴：晶带面的交线互相平行,其中通过坐标原点的那条平行直线
20.晶面间距：指两个相邻的平行晶面间的垂直距离。通常用dhkl或简写为d来表示
21.粉末法：用单色的X射线照射多晶体试样,利用晶粒的不同取向来改变θ,以满足布拉格方程
22.分辨率：指成像物体(试样)上能分辨出来的两个物点间的最小距离
23.球差：即球面像差,是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的
规律而造成的。
24.透射电子显微镜：以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨本领、
高放大倍数的电子光学仪器。
25.定点分析：将电子束固定在需要分析的微区上,用波谱仪分析时可改变分光晶体和探测器的
位置,即可得到分析点的X射线谱线
26.死时间（DT）：脉冲处理器占线不能处理新入射的X射线脉冲的时间，以百分比表示，70%
以下可以进行分析，一般要求在30-40%。
27.内标法（单线条法）：把多相混合物中待测相的某根衍射线强度与该相纯物质的相同指数衍
射线强度相比较而进行的。
28.外标法：标法的试样是在待测试样中掺入一定含量的标准物质的混合物,把试样中待测相的
某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条强度相比较,从而获
得待测相含量。
29.光阑：限制入射线的不平行度和固定入射线的尺寸和位置,也称为准直管。
30.电子显微镜（EM）：用高能电子束作光源,用磁场作透镜制造的具有高分辨率和高放大倍数
的电子光学显微镜。