第一部分:ＡES,ＡAS,ＡFS
ＡES原子发射光谱法就就是根据待测元素得激发态原子所辐射得特征谱线得波长和强度，对元素进行定性和定量测定得分析方法。
特点:
1、灵敏度和准确度较高
2、选择性好,分析速度快
3、试样用量少,测定元素范围广
4、局限性
（1）样品得组成对分析结果得影响比较显著。因此，进行定量分析时,常常需要配制一套与试样组成相仿得标准样品,这就限制了该分析方法得灵敏度、准确度和分析速度等得提高。
(２）发射光谱法,一般只用于元素分析,而不能用来确定元素在样品中存在得化合物状态,更不能用来测定有机化合物得基团;对一些非金属,如惰性气体、卤素等元素几乎无法分析。
(３)仪器设备比较复杂、昂贵。
术语:
自吸
自蚀
击穿电压：使电极间击穿而发生自持放电得最小电压。
自持放电：电极间得气体被击穿后,即使没有外界得电离作用，仍能继续保持电离，使放电持续。
燃烧电压:自持放电发生后,为了维持放电所必需得电压。
由激发态直接跃迁至基态所辐射得谱线称为共振线。由较低级得激发态(第一激发态)直接跃迁至基态得谱线称为第一共振线，一般也就就是元素得最灵敏线。当该元素在被测物质里降低到一定含量时，出现得最后一条谱线,这就就是最后线,也就就是最灵敏线。用来测量该元素得谱线称分析线。
仪器：
光源得作用:蒸发、解离、原子化、激发、跃迁。
光源得影响:检出限、精密度和准确度。
光源得类型:
直流电弧
交流电弧
电火花
电感耦合等离子体(IＣP)
ＩCP原理
当高频发生器接通电源后,高频电流Ｉ通过感应线圈产生交变磁场(绿色)。
开始时,管内为Ar气,不导电，需要用高压电火花触发,使气体电离后,在高频交流电场得作用下,带电粒子高速运动,碰撞，形成“雪崩”式放电，产生等离子体气流。在垂直于磁场方向将产生感应电流(涡电流,粉色),其电阻很小,电流很大(数百安）,产生高温。又将气体加热、电离,在管口形成稳定得等离子体焰炬。
IＣP-AES法特点
1、具有好得检出限。溶液光谱分析一般列素检出限都有很低。
2、IＣP稳定性好,精密度高,相对标准偏差约1%。
3、基体效应小。
4、光谱背景小。
5、准确度高,相对误差为１%，干扰少。
6、自吸效应小
进样：
溶液试样
气动雾化器
超声雾化器
超声雾化器:不连续得信号
气体试样可直接引入激发源进行分析。有些元素可以转变成其相应得挥发性化合物而采用气体发生进样（如氢化物发生法)。
例如砷、锑、铋、锗、锡、铅、硒和碲等元素。
固体试样
(1)、试样直接插入进样
(2)、电弧和火花熔融法
(３)、电热蒸发进样
(4)、激光熔融法
分光仪棱镜和光栅
检测器:目视法,摄谱法,光电法
干扰:
光谱干扰：
在发射光谱中最重要得光谱干扰就就是背景干扰。带状光谱、连续光谱以及光学系统得杂散光等,都会造成光谱得背景。
非光谱干扰:
非光谱干扰主要来源于试样组成对谱线强度得影响,这种影响与试样在光源中得蒸发和激发过程有关，亦被称为基体效应。
光源中未离解得分子所产生得带状光谱就就是传统光源背景得主要来源。
光源温度越低,未离解得分子就越多,背景就越强。
校准背景得基本原则就就是，谱线得表观强度I1+b减去背景强度Ib。常用得校准背景得方法有校准法和等效浓度法。
基体效应,
在实际工作中,常常向试样和标准样品中加入一些添加剂以减小基体效应,提高分析得准确度,这种添加剂有时也被用来提高分析得灵敏度。
添加剂主要有光谱缓冲剂和光谱载体。
光谱缓冲剂:为了减少试样成分对弧焰温度得影响,使弧焰温度稳定,试样中加入一种或几种辅助物质，用来抵偿试样组成变化得影响。
分析方法:
定性:铁光谱比较法,标准试样光谱比较法
半定量:常采用摄谱法中比较黑度法
定量：内标法
校准曲线法
标准加入法
AAS:原子吸收光谱法(AAS)就就是基于气态得基态原子外层电子对紫外光和可见光范围得相对应原子共振辐射线得吸收强度来定量被测元素含量为基础得分析方法。
特点:
选择性好:谱线比原子发射少,谱线重叠概率小。
灵敏度高:适用于微量和痕量得金属与类金属元素定量分析。
精密度(RSD%）高:一般都能控制在5%左右。
操作方便和快速：无需显色反应。
应用范围广。
局限性:不适用于多元素混合物得定性分析;对于高熔点、形成氧化物、形成复合物或形成碳化物后难以原子化元素得分析灵敏度低。
①、自然宽度ΔυN
她与原子发生能级间路迂时激发态原子得有限寿命有关。