LLZO固态电解质片烧结工艺对界面阻抗影响的实验研究与分析论文

摘要：本文旨在研究LLZO固态电解质片在烧结过程中界面阻抗的变化规律，探讨不同烧结工艺参数对界面阻抗的影响，为优化LLZO固态电解质片烧结工艺提供理论依据。

关键词：LLZO固态电解质片；烧结工艺；界面阻抗；实验研究

一、问题的提出

（一）LLZO固态电解质片烧结过程中界面阻抗变化的研究

1.LLZO固态电解质片烧结过程中界面阻抗的波动现象

在烧结LLZO固态电解质片的过程中，界面阻抗的波动现象引起了广泛关注。界面阻抗是指电解质片内部晶粒之间、晶粒与电解质之间以及电解质与电极之间的接触电阻。在实际应用中，界面阻抗的大小直接影响着