原子力显微镜单分子力谱：解锁高分子材料纳米结构的微观密码

一、引言

1.1研究背景与意义

高分子材料作为材料科学领域的重要组成部分，广泛应用于航空航天、生物医学、电子信息等众多领域。其性能的优劣直接影响到相关产品的质量与应用效果。而高分子材料的性能在很大程度上取决于其纳米结构，包括分子链的构象、链间相互作用、聚集态结构等。深入研究高分子材料的纳米结构，对于理解材料的性能本质、优化材料性能以及开发新型高分子材料具有至关重要的意义。

原子力显微镜单分子力谱（AFM-SMFS）技术作为一种强大的研究手段，能够在单分子水平上对高分子材料的纳米结构进行深入探究。它可以直接测量单个分子或分子间的相