低测试成本芯片的ATE与板级测试：技术、挑战与优化策略

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化时代，半导体行业作为现代信息技术的核心与基石，正以前所未有的速度蓬勃发展，深刻地改变着人们的生活和推动着社会的进步。从智能手机、电脑到物联网设备、人工智能硬件，芯片无处不在，其性能和质量直接影响着这些电子产品的功能与可靠性。随着半导体技术的不断演进，芯片的集成度越来越高，功能愈发强大，与此同时，对芯片测试的要求也日益严苛。

芯片测试作为半导体产业链中不可或缺的关键环节，其重要性不言而喻。它是确保芯片质量和性能的核心手段，通过对芯片进行全面、细致的检测，能够准确识别出芯片在功能、性能、可靠性等方