ICS77.160
CCSH16
YS
中华人民共和国有色金属行业标准
YS/TXXXX—202X
硬质合金硬质涂层厚度的测定
X射线荧光光谱法
Hardmetals—Determinationofhardcoatingthickness—X-rayfluorescence
spectrometricmethod
（预审稿）
202×-××-××发布202×-××-××实施
中华人民共和国工业和信息化部发布
YS/TXXXXX—202X
前言
本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起
草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任
本文件由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC243）提出并归口。
本文件起草单位：赣州澳克泰工具技术有限公司、崇义章源钨业股份有限公司、鹰潭市检验检测认
证院（国家铜及铜产品质量监督检验中心）、厦门金鹭特种合金有限公司、中南大学、广东省科学院工
业分析检测中心、上海源创同章表面涂层科技有限公司、成都美奢锐新材料有限公司、南昌硬质合金有
限责任公司、蓬莱超硬复合材料有限公司、江西国创院新材料有限公司。
本文件主要起草人:
II
YS/TXXXXX—202X
硬质合金硬质涂层厚度的测定X射线荧光光谱法
1范围
本文件规定了用X射线荧光光谱法测定硬质合金制品涂层厚度的方法。
本文件适用于涂层与基体存在不同金属元素的硬质合金制品涂层厚度的测定。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中注日期的引用文件，
仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本
文件。
GB/T16597冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则
GB/T16921-2005金属覆盖层覆盖层厚度测量X射线光谱法
GB/T36591-2018硬质合金制品的涂层金相检测方法
3术语和定义
GB/T16921-2005界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
归一化计数率saturationthickness
将计数率进行归一化数据处理后的数值。将无覆盖层基体的特征计数率计为0，而无限厚度的涂层
材料的特征计数率为1。
3.2
校准样块calibrationblock
用于绘制工作曲线的一套已知硬质涂层厚度且含有一定梯度的样品。
注：校准样块与待测样品在化学组成、物理性能等方面的要求一致，且涂层厚度具有适当的梯度，并能涵盖测定范
围。
4原理
每种元素的原子都具有独有的电子排列，对于给定的特征X射线，其能量取决于该原子的原子序数，
因此，可以用校准样块建立荧光强度与厚度的关系曲线，当X射线照射样品，激发涂层和基体中的元素，
产生特征X射线荧光，通过检测这些荧光的强度，结合已知的关系