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文档摘要

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ICS19.020

CCSL74

团体标准

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TCIE1522022

微电子器件假冒翻新物理特征识别方法

与程序

Testmethodandrocedureforidentificationofhsicalcharacteristicsof

ppy

fakeandcounterfeitmicroelectronicsdevices

2022-12-31发布2023-01-31实施

中国电子学会发布

中国标准出版社出版

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TCIE1522022

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4缩略语……………………2

5方法与程序………………2

5.1识别流程……………2

5.2外部特征分析………………………3

()……………………

内部特征分析射线检查法

5.3X5

()…………

5.4内部特征分析声学扫描显微镜检查法5

5.5内部微观特征分析…………………6

()………………

附录资料性典型图片

A8

参考文献……………………12

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