基本信息
文件名称:《T/CIE 116-2021电子元器件故障树分析方法与程序》.pdf
文件大小:277.51 KB
总页数:5 页
更新时间:2025-05-29
总字数:约6.53千字
文档摘要

ICS31.080

CCSL04

团体标准

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TCIE1162021

电子元器件故障树分析方法与程序

Faulttreeanalsismethodandrocedureofelectroniccomonents

ypp

2021-11-22发布2022-02-01实施

中国电子学会发布

中国标准出版社出版

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TCIE1162021

目次

前言…………………………Ⅰ

引言…………………………Ⅱ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4一般要求…………………3

4.1总则…………………3

4.2故障树构建基本要求………………4

4.3一般分析程序………………………4

4.4分析人员……………5

4.5信息收集……………5

5详细要求…………………5

5.1分析目的……………5

5.2故障树顶事件………………………5

5.3故障树分析范围……………………6

5.4FTA分辨率…………………………6

5.5故障树分析模式规则………………6

5.6故障树建造…………………………8

5.7故障树分析与应用…………………12

5.8故障树分析结果展示………………14

()、……

附录资料性元器件故障树符号事件标号和子树代号说明

A15

A.1电子元器件故障树符号…………15

、…………

A.2电子元器件故障树事件标号子树代号