基本信息
文件名称:《DB32/T 4378-2022衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法》.pdf
文件大小:244.7 KB
总页数:3 页
更新时间:2025-05-29
总字数:约3.81千字
文档摘要
ICS65.020.40
CCSB61
江苏省地方标准
/—
DB32T43782022
、
衬底表面纳米亚微米尺度薄膜
方块电阻的无损测试四探针法
,—
Nanosub-micronscalefilmonsubstrateNon-destructivetest
—
methodofsheetresistanceFourrobemethod
p
2022-10-23发布2022-11-23实施
江苏省市场监督管理局发布
中国标准出版社出版
/—
DB32T43782022
前言
/—《:》
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定
GBT1.120201
起草。
。。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任
本文件由江苏省石墨烯检测标准化技术委员会提出并归口。
:[(
本文件起草单位江苏省特种设备安全监督检验研究院国家石墨烯产品质量检验检测中心江
)]、、、、、
苏苏州晶格电子有限公司河南煜和科技集团有限公司江苏华永烯科技有限公司江南大学无锡
、、。
华鑫检测技术有限公司中国矿业大学烯源科技无锡有限公司
:、、、、、、、、、、
本文件主要起草人杨永强丁海龙区炳显谢一麟陈武魁刘禹魏宁呼志跃王云超王勤生
、、、、。
马龙李璐屈晓兰陈辉秦继恩
Ⅰ
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