基本信息
文件名称:《T/CIE 150-2022现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范》.pdf
文件大小:237.02 KB
总页数:5 页
更新时间:2025-05-29
总字数:约6.46千字
文档摘要
ICS31.020
CCSL05
团体标准
/—
TCIE1502022
现场可编程门阵列()芯片
FPGA
时序可靠性测试规范
()
TiminreliabilittestsecificationoffieldrorammableatearraFPGA
gyppggy
2022-12-31发布2023-01-31实施
中国电子学会发布
中国标准出版社出版
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TCIE1502022
目次
前言…………………………Ⅰ
引言…………………………Ⅱ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
3术语和定义………………1
4一般要求…………………2
4.1试验环境……………2
4.2测试设备……………2
4.3测试系统构建………………………2
4.4测试注意事项………………………3
4.5输入输出单元端口状态……………3
4.6测试流程……………3
5详细要求…………………4
5.1功能完整性检测……………………4
硬核时序可靠性测试……………………
5.2FPGAIP4
接口时序可靠性测试……………………
5.3FPGAIP5
5.4FPGA互联时序可靠性测试………………………5
5.5环境应力下FPGA芯片时序可靠性测试…………6
6测试报告…………………6