基本信息
文件名称:T/CIE 150-2022现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范.pdf
文件大小:237.02 KB
总页数:5 页
更新时间:2025-05-29
总字数:约6.46千字
文档摘要

ICS31.020

CCSL05

团体标准

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TCIE1502022

现场可编程门阵列()芯片

FPGA

时序可靠性测试规范

()

TiminreliabilittestsecificationoffieldrorammableatearraFPGA

gyppggy

2022-12-31发布2023-01-31实施

中国电子学会发布

中国标准出版社出版

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TCIE1502022

目次

前言…………………………Ⅰ

引言…………………………Ⅱ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4一般要求…………………2

4.1试验环境……………2

4.2测试设备……………2

4.3测试系统构建………………………2

4.4测试注意事项………………………3

4.5输入输出单元端口状态……………3

4.6测试流程……………3

5详细要求…………………4

5.1功能完整性检测……………………4

硬核时序可靠性测试……………………

5.2FPGAIP4

接口时序可靠性测试……………………

5.3FPGAIP5

5.4FPGA互联时序可靠性测试………………………5

5.5环境应力下FPGA芯片时序可靠性测试…………6

6测试报告…………………6