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文件名称:氢化物—原子荧光光谱法测定高纯铅中痕量碲 .pdf
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第22卷第2期冶金分析Vol22.No2

2002年4月MetaLl ̄gicalAnaIysApl,2002

文章■号:1000—7571c2002)02—0054—03

氢化物一原子荧光光谱法测定高纯铅中痕量碲

冯先进。,王肇中

(北京矿冶研究总院,北京l00044)

摘要:研究了高纯铅中赦量碲的氢化物一原子荧光光谱简便、快速测定方{击详细考察了最佳测定条件、干扰情况及其清

除方法。结果表明,用硫酸铅沉淀分离基休铅后.残留铅及其它共存离于不干扰碲的测定。碲的检出限(3a)为031

ng/nrL。按操作步骤对样品进行分析.其检下限可达0.1g.样品加标回收率在920%~99.5%之问。

关键词:氢化物一原于荧光光谱法;高纯铅;碲

中田分粪号:065731文献标识码:B

目前碲的测定方法主要是分光光度法和示波快速,较好地解决了高纯铅中痕量碲的测定。

极谱法_1.2J,分光光度法灵敏度难以满足测定要

l实验部分

求;示波极谱法用硝酸、酒石酸分解试样,在盐酸

介质中,用甲醛除硝酸,以砷作载体,次亚磷酸钠1.1主要仪器和试剂

还原碲和砷进行共沉淀分离,然后再冒高氯酸烟AFS2201型断续流动双道无色散型氢化物

除砷后,进行示波极谱测定。操作较烦琐,流程较原子荧光光谱仪(北京海光仪器公司).带有石英

长。关于用氢化物原子吸收光谱法(HGAAS)和炉原子化器和碲空心阴极灯,断续流动仪及586

氢化物原子荧光光谱法(HGAFS)测定金属铅中微机处理系统。

碲的报道还较少。本文研究了高纯铅中微量碲的仪器分析条件见表l,断续流动仪操作条件

氢化物一原子荧光光谱测定方法。该方法简便、见表2。

表1仪器分析条件

Table1Analysisconditionsoflustrume ̄t

波长(Wavet,ngth).run2143灯电漉(Lampcurrent).mA80

负高压(PMTVoLtage),V300读数时间(Readingtime),s100

原于化器温度(Temperat ̄eofq岫fumarefor8tot ̄),℃200延迟时间(I)e]ayedtime).S05

原于化器高度(Heighotatfomizer),一8.0酒量方式(Modeofdetezminatiort)标准曲线法

载气流量(Flowcapacityocfarriergas).mL/mni500读取方式(Modeofmeasurement)峰砥积

屏蔽气流量(Flowcal ̄qcltyof ̄,h