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文件名称:24位高精度ADC测试技术研究与实现.pdf
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总页数:87 页
更新时间:2025-05-31
总字数:约11.68万字
文档摘要

摘要

模数转换器(AnalogToDigitalConverter,ADC)作为模拟信号向数字信号

转换的必要器件,在航天、精密测量、无线通讯等多个领域有着重要的作用。由

于实际应用的需要,ADC的性能也在不断的提升。高精度ADC使用传统的测试

方法及设备测试时存在的测试时间过长、测试信号纯度要求高等问题。因此,根

据高精度ADC的特点研究高精度ADC的测试方法具有重要的意义。

本课题主要研究内容如下:

(1)高精度ADC测试方案设计。研究传统高精度ADC测试算法,进行高精

度ADC测试需求分析,针对高精度ADC测试存在的测试时间长以及信号源纯度

要求高等难点,设计了基于ATE机的高精度ADC测试方案。

(2)高精度ADC静态参数高效测试技术。分析了具有分段架构的高精度

SARADC的特性,并进一步研究了分段识别线性误差算法、对ADC的INL进行

分段并分别估计每一子段的INL,将各子段的INL之和作为ADC的实际INL。

与传统的斜坡直方图相比,减少了10倍采样点数,提高了高精度ADC的测试效

率。

(3)数字信号输入/输出模块(DigitalSignalInputOutput,DSIO)设计。根

据高精度ADC的测试需求,进行ATE数字模块DSIO功能逻辑设计,支持以序

列触发的方式完成对高精度ADC控制与数据采集,且可以对采集向量进行压缩。

(4)高精度ADC测试器件接口板(DeviceInterfaceBoard,DIB)设计。根

据测试方案设计并实现了通道隔离及选择电路,锁相环与分频器结合的低抖动时

钟电路,低噪声电源电路,电池充电管理电路,结合基准滤波器的超低噪声基准

电压电路,以及模拟通道调理电路。

本课题针对24bitADCAD7766设计了高精度ADC测试方案,通过研究分段

识别线性误差算法缩短了测试时间,同时对测试系统硬件进行设计,最后对其主

要参数进行测试。ADC主要参数测试结果INL10.76ppm、THD-110.60dB、SNR

107.75dB,均满足测试需求,为高精度ADC测试提供了一套完整的解决方案。

关键词:高精度ADC,ATE,高纯度正弦信号,静态参数测试

ABSTRACT

AnalogToDigitalConverter(ADC),asanecessarydeviceforconvertinganalog

signalstodigitalsignals,playsanimportantroleinaerospace,precisionmeasurement,

wirelesscommunicationandotherfields.Duetotheneedsofpracticalapplications,

ADCperformanceisconstantlyimproving.HighprecisionADChassomeproblems

suchaslongtesttimeandhighpurityoftestsignalwhenusingtraditionaltestmethods

andequipment.Therefore,itisofgreatsignificancetostudythetestmethodofhigh-

precisionADCaccordingtothecharacteristicsofhigh-precisionADC.

Themainresearchcontentofthistopicisasfollows:

(1)High-precisionADCtestschemedesign.Thetraditionalhigh-precisionADC

testalgorithmisstudied,andtherequirementsofhigh-precisionADC