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文件名称:基于损耗剪裁微结构的半导体激光器侧向光束质量控制研究:原理、应用与优化.docx
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总页数:23 页
更新时间:2025-05-31
总字数:约2.86万字
文档摘要
基于损耗剪裁微结构的半导体激光器侧向光束质量控制研究:原理、应用与优化
一、引言
1.1研究背景与意义
半导体激光器自问世以来,凭借其波长范围广、体积小、成本低、寿命长及可直接调制等显著优点,在众多领域中发挥着关键作用,成为现代光电子技术领域的核心器件之一。随着科技的迅猛发展,半导体激光器的应用范围不断拓展,在光通信、光存储、材料加工、激光雷达、生物医疗以及军事国防等诸多领域都展现出了巨大的应用潜力,全球半导体激光器市场规模也随之持续增长,目前已超过60亿美元,并且随着新型应用场景的不断涌现,其市场规模仍在迅速扩张。
在众多应用场景中,对半导体激光器的性能要求日益严苛,其中高光束质量成