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文件名称:铜焊料凝固进程中Cu6Sn5生长行为剖析与调控策略研究.docx
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总页数:21 页
更新时间:2025-05-31
总字数:约2.83万字
文档摘要

铜焊料凝固进程中Cu6Sn5生长行为剖析与调控策略研究

一、引言

1.1研究背景

在现代工业领域,尤其是电子封装、航空航天、汽车制造等行业,焊接技术作为一种关键的连接工艺,起着不可或缺的作用。焊接的质量直接影响到产品的性能、可靠性和使用寿命。而铜焊料,因其具有良好的导电性、导热性、耐腐蚀性以及与多种金属材料的良好相容性,在焊接材料中占据着重要地位。在电子封装领域,随着电子产品不断向小型化、轻量化、高性能化方向发展,对电子封装的密度和可靠性提出了更高的要求。铜焊料作为实现电子元件之间电气连接和机械固定的关键材料,其性能的优劣直接关系到电子设备的性能和稳定性。例如,在集成电路(IC)封装中,铜焊