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文档摘要

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激励频率变更对轻敲模式原子力显微镜相位的作用探究

一、引言

1.1研究背景

原子力显微镜（AtomicForceMicroscope，AFM）自问世以来，凭借其能够在纳米尺度下对材料表面的微观结构、力学性质等进行高精度观测和分析的卓越能力，已成为材料科学、生物学、化学等众多领域不可或缺的重要研究工具。AFM利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率，不仅可以观察导体，也可以观察非导体，弥补了扫描隧道显微镜的不足。

在AFM的多种工作模式中，轻敲模式（TappingMode）由于其独特的优势而被广泛应用。轻敲模式下，探针在