探寻平面型SiC MOSFET器件：短路机理剖析与优化设计策略.docx

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文件名称：探寻平面型SiC MOSFET器件：短路机理剖析与优化设计策略.docx

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更新时间：2025-06-02

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文档摘要

探寻平面型SiCMOSFET器件：短路机理剖析与优化设计策略

一、引言

1.1研究背景与意义

随着现代社会对能源效率和可持续发展的关注度不断提高，电力电子技术在各个领域的应用愈发广泛且深入。从新能源汽车的高效驱动系统，到可再生能源发电的并网逆变器，再到工业自动化中的电机控制，电力电子器件作为实现电能高效转换和控制的核心部件，其性能优劣直接影响着整个系统的效能和可靠性。在众多电力电子器件中，碳化硅（SiC）金属-氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）凭借其卓越的特性，成为了当前研究和应用的热点，展现出取代传统硅基器件的巨大潜力。