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文件名称:基于直流磁控溅射技术的细长管道内壁TiZrV薄膜制备与性能研究.docx
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总页数:20 页
更新时间:2025-06-02
总字数:约2.54万字
文档摘要
基于直流磁控溅射技术的细长管道内壁TiZrV薄膜制备与性能研究
一、引言
1.1研究背景与意义
1.1.1研究背景
在现代工业和科学研究的众多领域,如航空航天、半导体制造、能源等,对材料表面性能的要求日益严苛。真空技术作为材料表面处理和薄膜制备的关键手段,发挥着举足轻重的作用。其中,管道内表面的薄膜制备是一个极具挑战性的课题,尤其是对于细长管道,传统的镀膜方法往往难以满足其均匀性、附着力以及特殊功能需求等多方面的要求。
在一些特殊应用场景中,如加速器真空管道、真空镀膜设备的传输管道等,需要在管道内壁制备具有特定性能的薄膜。这些薄膜不仅要具备良好的真空性能,如低出气率、高抽气能力等,还需具备