X射线衍射仪技术（XRD）
1、X射线衍射仪技术（XRD）
X射线衍射仪技术(X-raydiffraction,XRD)。经过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,取得材料成份、材料内部原子或分子结构或形态等信息研究手段。X射线衍射分析法是研究物质物相和晶体结构关键方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不一样程度衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方法、分子构型、构象等决定该物质产生特有衍射图谱。X射线衍射方法含有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到相关晶体完整性大量信息等优点。所以,X射线衍射分析法作为材料结构和成份分析一个现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。?
2.X射线衍射仪技术（XRD）可为用户处理问题
（1）当材料由多个结晶成份组成,需区分各成份所占百分比,可使用XRD物相判定功效,分析各结晶相百分比。
（2）很多材料性能由结晶程度决定,可使用XRD结晶度分析,确定材料结晶程度。
（3）新材料开发需要充足了解材料晶格参数,使用XRD可快捷测试出点阵参数,为新材料开发应用提供性能验证指标。
（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象,可能包含微观应力方面影响,使用XRD能够快捷测定微观应力。
（5）纳米材料因为颗粒细小,极易形成团粒,采取通常粒度分析仪往往会给犯错误数据。采取X射线衍射线线宽法(谢乐法)能够测定纳米粒子平均粒径。
3.X射线衍射仪技术（XRD）注意事项
（1）固体样品表面＞10×10mm,厚度在5μm以上,表面必需平整,能够用几块粘贴一起。
（2）对于片状、圆拄状样品会存在严重择优取向,衍射强度异常,需提供测试方向。
（3）对于测量金属样品微观应力（晶格畸变）,测量残余奥氏体,要求制备成金相样品,并进行一般抛光或电解抛光,消除表面应变层。
（4）粉末样品要求磨成320目粒度,直径约40微米,重量大于5g。
4.应用实例
样品信息:送检样品为白色粉末状珍珠粉,送检方要求进行物相判定。本试验使用设备为日本理学D/max2500X射线衍射仪。
试验参数:管压40KV,管流200μA,Cu靶,衍射宽度DS=SS=1°,RS=0.3mm,扫描速度2.000(d?min-1),扫描范围10°~80°。
测试谱图
测试结果:样品关键成份为碳酸钙
介绍
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