基本信息
文件名称:稀土掺杂Al???In?N薄膜的制备工艺与光电性能调控研究.docx
文件大小:52.14 KB
总页数:32 页
更新时间:2025-06-07
总字数:约4.45万字
文档摘要
稀土掺杂Al???In?N薄膜的制备工艺与光电性能调控研究
一、引言
1.1研究背景与意义
在现代光电子器件领域,半导体材料的性能提升与创新始终是推动技术进步的核心要素。Al???In?N薄膜作为一种III族-Ⅴ族结构的化合物半导体材料,凭借其独特的物理性质,近年来在学术界和工业界都吸引了广泛关注。
Al???In?N合金由铝(Al)、铟(In)和氮(N)组成,其能隙宽度可在1.9eV到6.2eV之间灵活调节,这一特性使得它在光电器件应用中展现出巨大潜力。通过精确控制铝和铟的比例,能够实现对其物理、电学和光学性质的有效调控。从物理性质上看,随着Al和In比例的变