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文件名称:基于信息化集成的晶圆测试MES系统创新设计与实践.docx
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总页数:201 页
更新时间:2025-06-09
总字数:约7.08万字
文档摘要
基于信息化集成的晶圆测试MES系统创新设计与实践
一、引言
1.1研究背景与意义
1.1.1研究背景
半导体产业作为现代科技的基石,在全球经济和科技发展中占据着举足轻重的地位。从智能手机、计算机到汽车电子、人工智能等领域,半导体芯片无处不在,是推动这些领域创新发展的核心驱动力。近年来,随着5G通信、物联网、大数据、人工智能等新兴技术的快速崛起,对半导体芯片的需求呈现出爆发式增长,进一步推动了半导体行业的繁荣发展。
在半导体制造过程中,晶圆测试是一个至关重要的环节。晶圆测试是指在晶圆被切割成单个芯片之前,对晶圆上的芯片进行电气性能和功能测试,以检测芯片是否符合设计要求和质量标准。这一环节