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文件名称:SerDes接口测试模块设计与实现.pdf
文件大小:6.31 MB
总页数:87 页
更新时间:2025-06-09
总字数:约12.16万字
文档摘要

摘要

串行解串技术(Serializer-Deserializer,SerDes)作为一种高效的通信技术,近

年来逐渐成为中长传输距离下主流的高速串行传输技术。现如今SerDes技术被广

泛地应用在各个领域的高速通信系统之中,因此针对SerDes接口芯片的测试及其

结果对于这些芯片能否正式投入使用,有着至关重要的作用。误码率,抖动和抖动

容限是用于检测SerDes接口芯片的几个重要指标。通常可以使用数字通信分析仪

(DCA)、示波器以及误码率测试仪(BERT)等仪器进行抖动和误码率的测试,但

这类测试设备的成本往往比较高昂,并且不易携带。因此,研究如何搭建一个测试

系统,对SerDes接口数据传输过程中的关键指标进行测试是很有意义的。

本课题致力于研制基于FPGA实现的高速SerDes接口芯片集成测试模块,在

不借助外部仪器的前提下,完成多个通道高速测试信号的生成发送与接收分析。课

题的主要研究内容包括:

1、高速串行信号收发功能的实现:对测试模块多通道高速串行测试信号的收

发功能进行了实现。主要包括测试模块硬件电路设计,高速数据传输速率调节功能

的实现,信号电压摆幅调节功能的实现,传输信号码型控制以及传输信号抖动注入

的实现。

2、误码率眼图及其快速测试算法的实现:通过调用FPGA内部逻辑资源,实

现对接收端(RX)输入高速串行信号进行快速的误码率眼图分析,凭借眼图的关

键测量参数对待测SerDes接口芯片信号传输质量进行评估。主要包括误码率眼图

功能模块的实现,包括底层硬件控制流程的设计,眼图关键参数选取的实现以及快

速测试算法的实现。

3、串行传输数据误码率和抖动容限测试功能的实现:完成了高速数据误码率

测试功能模块的实现及其控制流程的设计。基于抖动容限的原理完成了待测接口

抖动容限测试功能模块的实现。

课题当前实现了数据传输速率0.5Gbps~32Gbps范围内高精度调节,支持PRBS

码型与自定义码型传输,信号抖动频率为40kHz~12.5MHz,眼图可测信号幅度

80mV~840mV,眼图幅度精度±20mV,并支持量级可设置的误码率测试。

关键词:SerDes、高速串行传输、误码率眼图、眼图参数、抖动容限

ABSTRACT

Asanefficientcommunicationtechnology,Serializer-Deserializer(SerDes)has

graduallybecomethemainstreamhigh-speedserialtransmissiontechnologyunder

mediumandlongtransmissiondistancesoccasionsinrecentyears.NowSerDes

technologyhasbeenwidelyusedinhigh-speedcommunicationsystemsinvariousfields,

sothetestresultsofSerDesinterfacechipsplayacrucialroleinwhetherthesechipscan

beputintouseformally.Biterrorrate(BER),jitterandjittertoleranceareseveral

importantindicatorsusedtotesttheSerDesinterfacechips.JitterandBERtestingcanbe

performedwithinstrumentssuchasdigitalcommunicationsanalyzers(DCA),

oscilloscopes,andbiterrorratetesters(BERT).However,thesekindoftestequipmentis

oftenexpensiveandnotportable.Therefore,itisverymeanin