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文件名称:FPGA时延故障测试技术:原理、方法与创新实践.docx
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总页数:19 页
更新时间:2025-06-10
总字数:约2.48万字
文档摘要
FPGA时延故障测试技术:原理、方法与创新实践
一、引言
1.1研究背景
在当今数字化时代,随着集成电路技术的迅猛发展,现场可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray,FPGA)作为一种可编程逻辑器件,凭借其灵活性、可重构性以及快速上市等显著优势,已成为现代数字系统的核心组成部分,被广泛应用于通信、航空航天、医疗、工业控制等众多关键领域。
FPGA将通用门阵列结构与现场可编程特性相结合,用户能够根据自身需求对其进行编程和配置,从而实现各种复杂的数字电路功能。在通信领域,FPGA被用于实现高速数据处理和信号传输,满足5G通信对大容量、低延迟的严格要求;在航