基本信息
文件名称：STMicroelectronics 系列：STM32F3 系列 (用于传感器丰富的玩具)_（10）.STM32F3系列的调试与测试方法.docx
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总页数：32 页
更新时间：2025-06-10
总字数：约1.58万字
文档摘要
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STM32F3系列的调试与测试方法
1.介绍
在开发基于STM32F3系列单片机的传感器丰富的玩具时，调试和测试是确保系统稳定性和功能正确性的关键步骤。本节将详细介绍STM32F3系列单片机的调试与测试方法，包括硬件调试、软件调试、单元测试和系统测试等方面的内容。我们将使用STM32CubeIDE作为主要开发工具，并结合具体的传感器应用实例进行说明。
2.硬件调试
2.1JTAG/SWD接口
STM32F3系列单片机支持JTAG和SWD（SerialWireDebug）接口进行硬件调试。SWD接口相比于JTAG接口更加简单，仅需要SWDIO和S