基本信息
文件名称：NXP 系列：Kinetis L 系列_（11）.KinetisL系列调试与测试.docx
文件大小：27.71 KB
总页数：35 页
更新时间：2025-06-12
总字数：约1.35万字
文档摘要
PAGE1
PAGE1
KinetisL系列调试与测试
调试工具与环境
1.调试工具介绍
调试是嵌入式系统开发中不可或缺的一部分。对于KinetisL系列单片机，常用的调试工具有JTAG、SWD（SerialWireDebug）、以及片上调试工具如MCU的内置调试接口。这些工具可以帮助开发人员在不同的开发阶段进行代码调试和硬件验证。
1.1JTAG调试
JTAG（JointTestActionGroup）是一种标准的测试和调试接口，广泛应用于各种嵌入式系统中。JTAG接口通常包括TCK（TestClock）、TMS（TestModeSelect）、TDI（