9．2．6逻辑分析仪主要技术指标及发展趋势1．逻辑分析仪的主要技术指标逻辑分析仪的技术指标主要有：①定时分析最大速率。②状态分析最大速率。③通道数。④存储深度。⑤触发方式。一般有：随机触发、通道触发、毛刺触发、字触发等基本方式，有的还有一些触发附加功能，如：延迟触发、限定触发、组合触发、序列触发等。⑥输入信号最小幅度。⑦输入门限变化范围。⑧毛刺捕捉能力。还有存储方式、采样方式、显示方式、延迟数、建立保持时间等技术指标。2．逻辑分析仪的发展趋势①分析速率、通道数、存储深度等技术指标也在不断提高。②功能不断加强③与时域测试仪器示波器的结合，提高混合信号分析能力。④向逻辑分析系统（LogicAnalyzeSystem）方向发展。第30页，共45页，星期日，2025年，2月5日9．2．7逻辑分析仪的基本应用1．逻辑分析仪在硬件测试及故障诊断中的应用：逻辑定时分析仪和状态分析仪均可用于硬件电路的测试及故障诊断。给一数字系统加入激励信号，用逻辑分析仪检测其输出或内部各部分电路的状态，即可测试其功能。2．逻辑分析仪在软件测试中的应用：逻辑分析仪也可用于软件的跟踪调试，发现软硬件故障，而且通过对软件各模块的监测与效率分析还有助与软件的改进。在软件测试中必须正确地跟踪指令流，逻辑分析仪一般采用状态分析方式来跟踪软件运行。3．测试数字集成电路：将数字集成电路接入逻辑分析仪中，通过选择适当的显示方式，得到具有一定规律得图形。如果显示不正常，可以通过显示过程中不正确的图形，找出逻辑错误的位置。4．数字系统故障诊断：要查找并确定数字系统产生错误的原因，可选择能生成多路测试数据的仪器，把该测试数据加到被测电路中并由逻辑分析仪测量其响应。第31页，共45页，星期日，2025年，2月5日9．3可测性设计9．3．1概述在进行系统设计时就要同时考虑到测试的需求，以提高系统的可测试性，这就是可测性设计。研究的主要内容包括：什么样的结构容易做故障诊断；什么样的系统，测试时所用的测试矢量既数量少，产生起来又较方便；测试点和激励点设置在什么地方，设置多少，才能使测试比较方便而开销又比较少等等。下面介绍扫描设计技术、内建自测试技术及边缘扫描测试技术，这些技术均属于结构可测性设计方法。9．3．2扫描设计技术扫描设计(ScanDesign)技术是解决存贮元件可测性的有效方法，它不仅使时序电路的测试得到简化，而且还可使电路能够自检，从而显著提高系统的可测性。第32页，共45页，星期日，2025年，2月5日第1页，共45页，星期日，2025年，2月5日当今信息社会，数字集成电路和计算机技术日益普及和发展，系统越来越庞大和复杂，为确保数字电路和系统的性能和可靠性，前面讨论的时域、频域及调制域的测量，对于复杂的数字电路和集成电路，前述测量方法无法达到测量目的，所以就要求对数字电路和系统中的数据信息进行测量，这种测试技术统称为数据域测试技术。本章主要讲述数据域的基本概念、数据域测试系统和测量仪器、重点掌握逻辑分析仪的原理、使用及数据域测试技术的具体应用。第2页，共45页，星期日，2025年，2月5日9．1．1数据域测试的基本概念1、数据信息—数据流首先要明确所测数字信号的种类：①信息：只有两种逻辑状态的二进制符号（1/0或高低电平）。②数据字：多位二进制信息组合构成的一个数据。③数据流：大量数据字有序的集合。数据信息除了用离散的时间作为自变量外，还可以用事件序列作为自变量。在数据域分析中，通常关注的不是每条信号线上的电压的确切数值，而只需要知道处于低电平还是高电平以及各信号互相配合在整体上表示什么意义。通常认为数据域分析是研究数据流、数据格式、设备结构和用状态空间概念表征的数字系统的特征。9.1概述第3页，共45页，星期日，2025年，2月5日2、数字系统的特点：①数字信号通常按时序传递。②信号几乎都是多位传输的。③信息的传输方式多种多样。④数字信号的速度变化范围很宽。⑤信号往往是单次的或非周期性的。⑥数字系统故障判别与模拟系统不同。3．数据域测试特点①，数字系统的响应与激励之间不是简单的线性关系。②，随着数字集成电路集成度增长，常常不得不依靠少数外部测试点上所得到的有限测试结果去推断电路内部所发生的复杂过程。第4页，共45页，星期日，2025年，2月5日③，在微机化数字系统中，除了由于硬件故障引起外部信息错乱外，还可能由于软件问题而导致异常输出。④，在一个数字系统的某一点上所发生的事件，往往经过若干个内部工作循环以后，才会在另一点或输出端有所表现，甚至可能毫无表现。⑤，由于数字信息几乎都是多位传输的，且数