电子显微镜的原理和应用测试题带答案
1.电子显微镜利用什么作为光源进行成像？
A.可见光
B.电子束
C.X射线
D.紫外线
答案：B
2.电子显微镜的高分辨率主要取决于什么？
A.电子束的加速电压
B.物镜的放大倍数
C.样品的质量
D.探测器的灵敏度
答案：A
3.在电子显微镜中，哪个部件用于加速电子束至数十keV？
A.电子枪
B.聚光镜
C.物镜
D.投影镜
答案：A
4.电子显微镜中，用于聚焦电子束的装置是什么？
A.电子枪
B.聚光镜
C.物镜
D.中间镜
答案：B
5.扫描电子显微镜（SEM）主要用于观察什么？
A.样品的化学成分
B.样品的内部结构
C.样品的表面形貌
D.样品的磁性
答案：C
6.透射电子显微镜（TEM）与扫描电子显微镜（SEM）的主要区别在于什么？
A.分辨率
B.成像原理
C.放大倍数
D.观察样品的类型
答案：B
7.电子显微镜中，哪个信号主要用于形成二次电子像？
A.透射电子
B.背散射电子
C.二次电子
D.特征X射线
答案：C
8.在电子显微镜中，用于放大图像的装置是什么？
A.电子枪
B.聚光镜
C.物镜和投影镜系统
D.探测器
答案：C
9.电子显微镜的样品室通常需要保持多高的真空度？
A.10^-2Pa
B.10^-3Pa
C.10^-4Pa
D.10^-5Pa或更高
答案：D
10.扫描电子显微镜中，哪个部件用于收集样品表面的二次电子信号？
A.电子枪
B.二次电子探测器
C.物镜
D.背散射电子探测器
答案：B
11.电子显微镜的分辨率通常可以达到多少纳米级别？
A.毫米级别
B.微米级别
C.纳米级别
D.皮米级别
答案：C
12.在电子显微镜中，哪个部件用于控制电子束的方向？
A.电子枪
B.偏转线圈
C.物镜
D.探测器
答案：B
13.扫描电子显微镜（SEM）的成像模式不包括以下哪一种？
A.二次电子像
B.背散射电子像
C.透射电子像
D.特征X射线像
答案：C
14.电子显微镜中，用于产生背散射电子信号的装置或过程是什么？
A.电子枪
B.样品与电子束的相互作用
C.物镜
D.探测器
答案：B
15.扫描电子显微镜中，哪个部件用于调节图像的亮度？
A.电子枪
B.亮度控制器
C.物镜
D.探测器
答案：B
16.电子显微镜中，球差主要是由什么引起的？
A.电子束的散射
B.电子透镜的几何像差
C.样品的厚度
D.探测器的灵敏度
答案：B
17.扫描电子显微镜（SEM）在材料科学中的主要应用不包括以下哪一项？
A.材料表面形貌观察
B.材料成分分析
C.材料内部结构分析
D.材料缺陷检测
答案：C
18.电子显微镜中，色差主要是由什么引起的？
A.电子束的加速电压不稳定
B.电子能量分布不均
C.样品的污染
D.探测器的老化
答案：B
19.扫描电子显微镜中，用于产生X射线信号的装置或过程是什么？
A.电子枪
B.样品中的原子内层电子被激发
C.物镜
D.探测器
答案：B
20.在电子显微镜中，景深指的是什么？
A.样品在物平面上下可移动的距离，保持像清晰
B.电子束在样品中的穿透深度
C.物镜的焦距
D.探测器的灵敏度
答案：A
21.透射电子显微镜（TEM）中，用于放大图像的部件包括哪些？
A.电子枪和聚光镜
B.物镜和投影镜
C.偏转线圈和探测器
D.背散射电子探测器
答案：B
22.电子显微镜中，用于调节样品与物镜间距离的装置是什么？
A.样品台升降装置
B.电子枪
C.聚光镜
D.物镜焦距调节器
答案：A
23.扫描电子显微镜（SEM）中，哪个部件用于调节图像的对比度？
A.电子枪
B.对比度控制器
C.物镜
D.探测器
答案：B
24.在电子显微镜中，明场像是由什么形成的？
A.透射电子束
B.背散射电子束
C.二次电子束
D.特征X射线
答案：A
25.电子显微镜中，用于分析样品成分的主要信号是