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文件名称:布图规划约束对VLSI设计性能的多维度影响探究.docx
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总页数:22 页
更新时间:2025-06-20
总字数:约2.81万字
文档摘要
布图规划约束对VLSI设计性能的多维度影响探究
一、引言
1.1研究背景与意义
随着信息技术的飞速发展,超大规模集成电路(VeryLargeScaleIntegration,VLSI)技术作为现代电子产业的核心,正持续推动着各类电子设备向更小尺寸、更高性能和更低功耗的方向演进。从智能手机、平板电脑等消费电子产品,到汽车电子、通信基站、医疗设备等关键领域,VLSI芯片无处不在,其性能直接决定了相关产品和系统的功能与竞争力。例如,在智能手机中,先进的VLSI芯片使得手机能够实现更强大的计算能力、更快速的通信速度以及更出色的图像处理效果,为用户带来更流畅的使用体验。
在VLSI设