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文件名称：NXP 系列：LPC1700 系列_（20）.LPC1700系列的调试技术.docx
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总页数：23 页
更新时间：2025-06-20
总字数：约1.03万字
文档摘要
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LPC1700系列的调试技术
引言
调试是嵌入式系统开发中不可或缺的环节，通过调试可以快速定位和解决问题，提高开发效率。LPC1700系列单片机提供了多种调试工具和方法，包括硬件调试接口、软件调试工具和调试技术。本节将详细介绍LPC1700系列的调试技术，帮助读者更好地理解和掌握调试方法。
硬件调试接口
SWD接口
LPC1700系列单片机支持SerialWireDebug(SWD)接口，这是一种低引脚数、高速调试接口，适用于资源受限的嵌入式系统。SWD接口只需要两个引脚：SWDCLK和SWDIO，分别用于时钟和数据传输。
连接和配置
连接硬件：使