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文件名称：航空电子元器件失效模式及其机理探讨.docx
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总页数：10 页
更新时间：2025-06-22
总字数：约5.32千字
文档摘要
第
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航空电子元器件失效模式及其机理探讨
本文对航空电子元器件的失效模式及失效机理进展了争论，并给出其敏感环境，对于电子产品的设计供给肯定的参考。
典型元器件失效模式
为猎取电子元器件的敏感环境，对其环境相关典型故障模式进展分析，如表1所示。
表1电子元器件典型故障模式
典型元器件失效机理分析
电子元器件的故障模式并不单一，仅对有代表性的局部典型元器件敏感环境的耐受极限进展分析，以得到较为通适的结论。
机电元件
典型机电元件包括电连接器、继电器等。分别结合两类元器件的构造对其失效模式进展深入分析。
电连接器
电连接器由壳体、绝缘体和接触体三大根本单元