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文件名称:STMicroelectronics 系列:STM32WB 系列_(16).STM32WB调试与测试技术.docx
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总页数:26 页
更新时间:2025-06-25
总字数:约1.34万字
文档摘要
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STM32WB调试与测试技术
在单片机开发过程中,调试与测试是确保系统稳定性和可靠性的重要环节。STM32WB系列单片机集成了多种调试和测试功能,包括硬件断点、单步执行、数据观察点、实时跟踪等。本节将详细介绍这些调试与测试技术的原理和具体应用方法,并提供实际操作的代码示例。
1.硬件调试接口
1.1SWD接口
STM32WB系列单片机支持串行线调试(SerialWireDebug,SWD)接口,这是一种两线调试接口,用于连接调试器和目标系统。SWD接口通过SWDIO和SWCLK两个引脚进行通信,提供了高速、低引脚数的调试解决方案。
1.1.1