基本信息

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文档摘要

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ICS31.080.01

CCSL40

中华人民共和国国家标准

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GBT457222025IEC624152010

半导体器件恒流电迁移试验

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SemiconductordevicesConstantcurrentelectromirationtest

g

(:,)

IEC624152010IDT

2025-05-30发布2025-09-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—/:

GBT457222025IEC624152010

目次

前言…………………………Ⅲ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

、…………………………

3术语定义和符号1

4背景………………………2

5样本量……………………2

6测试结构…………………2

7试验条件…………………3

8失效判据…………………3

9数据分析…………………3

参考文献………………………6

Ⅰ

/—/:

GBT457222025IEC624152010

前言

/—《:》

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GBT1.1