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文件名称:质量控制与测量系统分析相关知识试卷.docx
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更新时间:2025-06-27
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质量控制与测量系统分析相关知识试卷

1.以下描述错误的是()

A、零件的真值永远无法得到,只能无限与之接近;

B、数显卡尺的准确度是0.02mm;

C、产品控制理论关注的是零件是否在指定的范围内;

D、过程控制理论关注的是过程变差是否稳定并可接受.

【正确答案】:B

2.漏焊、未焊满、气孔、焊渣等指的是()

A、不良

B、缺陷

C、产品

D、OQAreject

【正确答案】:B

3.以下哪种分析方法不是用于基本计量型的测量系统()。

A、极差法

B、均值和极差法

C、假设检验分析

D、ANOVA