基本信息

---

下载

文档摘要

---

X射线微分相衬成像：方法学剖析与多领域应用探索

一、引言

1.1研究背景与意义

1895年，德国物理学家伦琴（WilhelmConradRontgen）在研究阴极射线时，意外发现了一种具有强穿透力的未知射线，因其性质不明，便将其命名为X射线。这一发现开启了物理学和医学的新纪元，X射线成像技术也应运而生，成为了人们窥探物体内部结构的重要工具。X射线成像技术凭借其能够穿透物体并获取内部结构信息的特性，在医学、材料科学、工业无损检测等众多领域得到了广泛应用。

传统的X射线成像技术主要基于物质对X射线的吸收差异来形成图像衬度，即吸收衬度成像。对于由重元素组成、吸收系数差异较大的