基于XRF技术的EDXRFA软件深度开发与算法创新设计

一、引言

1.1研究背景

X射线荧光光谱分析（X-RayFluorescenceSpectrometry，简称XRF）技术，作为材料成分分析领域的关键技术，凭借其非破坏性、高灵敏度、多元素同时分析等显著优势，在众多领域得到了极为广泛的应用。从材料科学领域对金属、合金、陶瓷等材料成分的精准剖析，以保障产品质量与性能；到地质学领域助力分析岩石和矿石成分，判断矿产资源价值；再到环境科学领域用于检测土壤、水和空气中的污染物，评估环境污染程度；甚至在考古学领域，XRF技术也能通过分析文物成分，揭示其制作工艺和历史背景。XRF技术已然