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随着航天事业的发展，半导体器件被广泛应用于航天领域。空间高能粒子与航天

器中的半导体器件发生相互作用诱发单粒子效应（Singleeventeffect，SEE），严重影

响航天器的可靠性和寿命。为保证航天器在轨期间的正常运行，必须对半导体器件进

行地面模拟，评估其抗SEE的能力。脉冲激光被证实是SEE地面模拟的重要手段之

一，其关键在于将测试结果与预估的空间辐射环境相联系，准确且有效的评估SEE的

发生率。相较于高能粒子，激光入射器件后所产生的电离径迹宽度较大，且中心电荷

密度