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文件名称：NXP 系列：LPC1700 系列 (基于 ARM Cortex-M3)_（18）.LPC1700系列调试技术.docx
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总页数：30 页
更新时间：2025-07-03
总字数：约1.33万字
文档摘要
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LPC1700系列调试技术
1.调试概述
在嵌入式开发中，调试是一个至关重要的步骤。LPC1700系列基于ARMCortex-M3内核，提供了丰富的调试功能和工具，帮助开发者快速定位和解决代码中的问题。调试技术主要包括以下几方面：
硬件调试接口：LPC1700系列支持多种调试接口，包括JTAG和SWD（SerialWireDebug）。
软件调试工具：常见的调试工具有KeilMDK、IAREmbeddedWorkbench和OpenOCD等。
调试策略：包括断点设置、单步执行、变量监视、内存查看等。
2.硬件调试接口
2.1JTAG接口