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文档摘要

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片上分布测试结构及多扫描通道同步测试的研究与实现

一、引言

随着半导体技术的快速发展，片上系统（SoC）的集成度越来越高，使得片上测试成为了电子设计自动化（EDA）领域中一个重要的研究方向。片上分布测试结构的设计及多扫描通道同步测试的实现，对于提高芯片的可靠性和性能具有重要价值。本文将详细探讨片上分布测试结构的设计原理及多扫描通道同步测试的实现方法。

二、片上分布测试结构的设计

1.测试结构概述

片上分布测试结构是一种用于在芯片内部进行自我检测和诊断的机制。其设计目的在于，在芯片制造完成后，通过一定的测试流程，对芯片内部各个部分的功能和性能进行全面检查，以发现潜在的缺陷和故障。

2.设计原