基本信息
文件名称:低成本高可靠芯片空腔封装(ACC ACP)B-Stage胶与芯片等温空腔封装工艺设备整体解决方案及其特点.pdf
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总页数:80 页
更新时间:2025-07-04
总字数:约5.76万字
文档摘要

低成本高可靠芯片空腔封装(ACCACP):

B-Stage胶与等温空腔封装工艺设备

及其特点

报告人:刘荣富

高级工程师

n专精特新企业n高新技术企业n科技领军企业n产教融合型企业

低成本高可靠芯片空腔封装(ACCACP):

B-Stage胶与等温空腔封装工艺设备及其特点

目录

n1.B-Stage胶在芯片封装过程中的工艺痛点

(溢胶、炸胶、鼓泡、穿孔、漏气、偏位、污渍、裂痕、压痕以及点胶、预固化、DIEATTACH、

WIREBOND、SEALING工艺匹配等痛点)

n2.B-Stage胶工艺特性与正确选型的重要性

n3.等温空腔封装中管壳材料特性影响点分析

n4.佛大华康工艺装备技术特性解决行业痛点

n5.高品质高可靠等温空腔封装应用案例分享

n6.佛大华康科技等温空腔封装专业团队简介

n专精特新企业n高新技术企业n科技领军企业n产教融合型企业

B-Stage胶与芯片等温空腔封装

工艺设备及其特点

n低成本管壳封装解决方案

n高质量n高可靠性n高一致性

HighReliability,HighPerformance,

andLowCostSolutions

头部企业大规模批量验证

n专精特新企业n高新技术企业n科技领军企业n产教融合型企业

B-Stage胶与芯片等温空腔封装

应用范围

佛大华康科技-B-Stage胶与芯片等温空腔封装-应用范围

n专精特新企业n高新技术企业n科技领军企业n产教融合型企业

B-Stage胶与芯片等温空腔封装

工艺设备及其特点

n1.B-Stage胶在芯片封装过程

中的工艺痛点

(溢胶、炸胶、鼓泡、穿孔、漏气、偏位、污渍、裂痕、

压痕以及点胶、预固化、DIEATTACH、WIREBOND、

SEALING工艺匹配等痛点)

报告人:刘荣富

高级工程师

n专精特新企业n高新技术企业n科技领军企业n产教融合型企业

B-Stage胶与芯片等温空腔封装

工艺设备及其特点

DIEATTACHSINGULATION

芯片管壳等温封装机

ICTC5000

BUBBLE

WIREBOND

LEAKTEST

DIEATTACH

WIREBOND

SEALINGSEALINGE