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文件名称：NXP 系列：LPC1768_46. LPC1768的片外调试.docx
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总页数：16 页
更新时间：2025-07-06
总字数：约9.27千字
文档摘要
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46.LPC1768的片外调试
46.1片外调试简介
片外调试（Off-chipDebugging）是一种在目标系统外部使用调试工具对单片机进行调试的技术。LPC1768作为一款高性能的ARMCortex-M3微控制器，支持多种片外调试方式，包括JTAG、SWD（SerialWireDebug）等。这些调试方式不仅有助于开发阶段的代码调试，还可以在系统运行时进行实时监控和故障排查。
46.1.1JTAG调试
JTAG（JointTestActionGroup）是一种标准的调试接口，广泛应用于嵌入式系统中。LPC1768支持JTAG调试