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文件名称:NXP 系列:LPC1768_46. LPC1768的片外调试.docx
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更新时间:2025-07-06
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46.LPC1768的片外调试

46.1片外调试简介

片外调试(Off-chipDebugging)是一种在目标系统外部使用调试工具对单片机进行调试的技术。LPC1768作为一款高性能的ARMCortex-M3微控制器,支持多种片外调试方式,包括JTAG、SWD(SerialWireDebug)等。这些调试方式不仅有助于开发阶段的代码调试,还可以在系统运行时进行实时监控和故障排查。

46.1.1JTAG调试

JTAG(JointTestActionGroup)是一种标准的调试接口,广泛应用于嵌入式系统中。LPC1768支持JTAG调试