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文件名称:大规模数字集成电路DFT设计:技术、挑战与创新实践.docx
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总页数:23 页
更新时间:2025-07-09
总字数:约2.88万字
文档摘要
大规模数字集成电路DFT设计:技术、挑战与创新实践
一、引言
1.1研究背景与意义
在当今数字化时代,大规模数字集成电路作为现代电子系统的核心部件,广泛应用于计算机、通信、消费电子、汽车电子、航空航天等众多领域,其性能和可靠性直接影响着整个电子系统的功能和稳定性。随着半导体技术的飞速发展,集成电路的规模不断扩大,复杂度持续提升。例如,现代微处理器芯片中集成了数十亿个晶体管,芯片面积却不断缩小,这使得电路设计和制造面临着前所未有的挑战。
一方面,芯片制造过程中的工艺偏差、物理缺陷以及设计错误等因素,都可能导致芯片出现故障,降低芯片的良品率和可靠性。据统计,在先进制程工艺下,芯片制造过程中的缺陷