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文件名称：NXP 系列：LPC54000 系列_（13）.LPC54000系列调试和测试.docx
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总页数：27 页
更新时间：2025-07-09
总字数：约1.19万字
文档摘要
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LPC54000系列调试和测试
在开发基于LPC54000系列单片机的应用程序时，调试和测试是确保代码质量和系统稳定性的关键步骤。本节将详细介绍LPC54000系列单片机的调试和测试方法，包括硬件调试接口、软件调试工具、常见调试技术以及测试策略。
硬件调试接口
LPC54000系列单片机提供了多种硬件调试接口，常见的有JTAG、SWD（SerialWireDebug）和UART。这些接口各有优缺点，适用于不同的调试场景。
JTAG接口
JTAG（JointTestActionGroup）接口是一种标准的调试接口，广泛用于嵌入式系统中。LPC5