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文件名称:功耗视角下集成电路老化缓解技术的深度剖析与创新研究.docx
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更新时间:2025-07-10
总字数:约3.31万字
文档摘要

功耗视角下集成电路老化缓解技术的深度剖析与创新研究

一、绪论

1.1研究背景与意义

自1958年德州仪器公司工程师JackS.Kilby首次在一块半导体器件上集成多个电子元器件,标志着集成电路诞生以来,集成电路已广泛应用于人类生产生活的各个领域,成为信息技术产业发展的有力支撑和国防信息安全的重要保障。在过去几十年间,集成电路技术遵循摩尔定律不断发展,集成度与性能实现了飞速提升。从早期简单的小规模集成电路,到如今能够在微小芯片上集成数十亿个晶体管的超大规模集成电路,其发展历程堪称人类工业发展史上的奇迹。例如,1971年Intel公司推出的第一款商用计算机微处理器4004,片