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文档摘要

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基于线激光扫描的三维测距系统：原理、技术与应用探索

一、引言

1.1研究背景

三维测距技术的发展可追溯至上世纪，历经多年的技术演进，已从最初的简单原理探索阶段逐步迈向成熟应用阶段。早期的三维测距技术受限于当时的科技水平，测量精度和效率较低，应用范围也相对狭窄。随着计算机技术、光学技术和信号处理技术的飞速发展，三维测距技术得到了极大的推动，不断创新和突破，测量精度和效率大幅提升，应用领域也不断拓展。

目前，三维测距技术在众多领域中发挥着不可或缺的作用。在工业制造领域，它被广泛应用于产品质量检测、零部件尺寸测量以及自动化生产线的监控等方面，能够快速、准确地获取物体的三维信息，从而实现对产品质量的